產品簡介

ST-21L方塊電阻測試儀半導體薄層電阻儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

ST-21L方塊電阻測試儀半導體薄層電阻儀

ST-21L方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
ST-21H方塊電阻測試儀以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。

ST-21L方塊電阻測試儀特點

1、采用大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定，低功耗；
2、以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；
3、采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；
4、體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
5、特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜

6、探頭帶抗靜電模塊

ST-21L方塊電阻測試儀技術參數

測量范圍
   按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：
   1.方塊電阻 1.00～19.999Ω/□；
   2.方塊電阻 10.0～199.99Ω/□；
   *小分辨率：0.001Ω/□
恒流源： 測量過程誤差：≤±0.8%
模數轉換器：
  量程：0～199.99mv；
  分辨率：10μv；
  方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動顯示；小數點同步顯示；
測量不確定度：在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%
四探針探頭規格：間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
電源：9V疊層電池1節

 ST-21L方塊電阻測試儀可選配HP系列四探針探頭的型號及規格：

 ST-21L方塊電阻測試儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號及規格

ST-21L方塊電阻測試儀半導體薄層電阻儀