產(chǎn)品簡介

美國賽文Severn Engineering低磁導(dǎo)率指示器磁導(dǎo)率它的物理意義是表示磁介質(zhì)中磁感應(yīng)強(qiáng)度與磁場強(qiáng)度之比。分為磁導(dǎo)率和相對磁導(dǎo)率，是表征磁介質(zhì)導(dǎo)磁性能的物理量。常用符號μ表示，μ為介質(zhì)的磁導(dǎo)率，或稱絕對磁導(dǎo)率。磁導(dǎo)率μ等于磁介質(zhì)中磁感應(yīng)強(qiáng)度B與磁場強(qiáng)度H之比，即μ=B/H

美國賽文Severn Engineering低磁導(dǎo)率指示器

磁導(dǎo)率它的物理意義是表示磁介質(zhì)中磁感應(yīng)強(qiáng)度與磁場強(qiáng)度之比。分為磁導(dǎo)率和相對磁導(dǎo)率，是表征磁介質(zhì)導(dǎo)磁性能的物理量。常用符號μ表示，μ為介質(zhì)的磁導(dǎo)率，或稱絕對磁導(dǎo)率。磁導(dǎo)率μ等于磁介質(zhì)中磁感應(yīng)強(qiáng)度B與磁場強(qiáng)度H之比，即μ=B/H
通常使用的是磁介質(zhì)的相對磁導(dǎo)率μr，其定義為磁導(dǎo)率μ與真空磁導(dǎo)率μ0之比，即μr=μ/μ0 ，相對磁導(dǎo)率μr與磁化率χ的關(guān)系是：μr=1+χ
磁導(dǎo)率μ，相對磁導(dǎo)率μr和磁化率xm都是描述磁介質(zhì)磁性的物理量。
對于順磁質(zhì)μr>1；對于抗磁質(zhì)μr<1，但兩者的μr都與1相差無幾 。在大多數(shù)情況下,導(dǎo)體的相對磁導(dǎo)率等于1.在鐵磁質(zhì)中，B與 H 的關(guān)系是非線性的磁滯回線，μr不是常量，與H有關(guān)，其數(shù)值遠(yuǎn)大于1。
例如，如果空氣(非磁性材料)的磁導(dǎo)率是1，則鐵氧體的磁導(dǎo)率為10，000，即當(dāng)比較時，以通過磁性材料的磁通密度是10,000倍。

涉及磁導(dǎo)率的公式：
磁場的能量密度=B^2/2μ
在國際單位制（SI）中，相對磁導(dǎo)率μr是無量綱的純數(shù)，磁導(dǎo)率μ的單位是亨利/米（H/m）。
常用的真空磁導(dǎo)率μ0公式 

初始磁導(dǎo)率μi：是指基本磁化曲線當(dāng)H→0時的磁導(dǎo)率
較大磁導(dǎo)率μm：在基本磁化曲線初始段以后，隨著H的增大，斜率μ=B/H逐漸增大，到某一磁場強(qiáng)度下(Hm)，磁密度達(dá)到較大值（Bm） ，即 飽和磁導(dǎo)率μS：基本磁化曲線飽和段的磁導(dǎo)率，μs值一般很小，深度飽和時，
μs=μo。 
關(guān)于弱磁材料相對磁導(dǎo)率的測量，根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（IEC 60404-15:2016，ASTM 342，GB/T35690—2017）目前行業(yè)內(nèi)比較常用的有磁通擾動法, 螺線管法，磁矩法，磁平衡法以及古依法磁天平法等,其中磁通擾動法，螺線管法的測量范圍一般在1.001~1.999之間，而其中磁平衡法是通過比較試樣與標(biāo)準(zhǔn)插入件的相對磁導(dǎo)率從而判斷試樣的相對磁導(dǎo)率的范圍，,其測量范圍較廣為1.009~6.0. 磁平衡法用于測量小型試樣或元件的相對磁導(dǎo)率更有優(yōu)勢；它還適用于開展材料或者完整組件的現(xiàn)場測量或在組件的安裝位置處直接進(jìn)行測量。該方法通過判斷磁體是被位于儀器上端的一組標(biāo)準(zhǔn)插入件吸引還是被位于其下端的被測試樣吸引來比較標(biāo)準(zhǔn)件和被測試樣相對磁導(dǎo)率的大小。 

LINTRONICS 引進(jìn)了德國斯蒂芬.梅爾/力斯特（STEFAN MAYER/LIST-MAGNETIK）和福爾斯特（FOERSTER）FERROMASTER/PLUS ， MAGNETOSCOP 1.069/1.070系列手持式數(shù)顯磁導(dǎo)率儀（磁通擾動法）以及美國賽文（SEVERN ENGINEERING)公司的磁平衡式Lo Mu Permeability Indicator/Ferrite Indicator（GO，NO-GO）系列磁導(dǎo)率指標(biāo)器等為各科研院校，物理實(shí)驗(yàn)室，研究所以及在航空航天，核電，勘探，交通，鋼鐵，冶金制造業(yè)，特種材料研發(fā)等應(yīng)用發(fā)揮了重要的作用。

美國賽文Severn Engineering低磁導(dǎo)率指示器